BRUKER布鲁克台阶仪DektakXT接触测量轮廓仪核心技术参数
BRUKER布鲁克台阶仪DektakXT接触测量轮廓仪是一款高性能的纳米尺度表面轮廓测量仪器，其核心技术参数如下：
测量性能
台阶高度重复性：优于5Å（在1μm台阶上），确保了测量的高精度和可靠性，满足纳米级测量需求。
垂直方向分辨率：最大1Å（在6.55μm垂直范围下），提供了纳米尺度的表面轮廓测量能力，能够清晰捕捉样品表面的细微特征。
测量范围：支持二维表面轮廓测量，可选配三维测量功能，满足不同应用场景的测量需求。
机械结构与设计
设计结构：采用单拱龙门式设计，提高了扫描稳定性，降低了周围环境中声音和震动噪音对测量信号的影响。
探针压力：探针压力范围在1-15mg，适应不同样品的测量需求，保护样品表面不被损伤。
扫描长度：扫描长度范围从50μm到55mm，提供了灵活的测量选项，适应不同尺寸样品的测量。
电子与数据处理
